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在半導體制造的精密世界里，硅片膜層厚度的微小偏差都可能導致器件性能衰減甚至失效。傳統接觸式測量方法因易劃傷晶圓表面、無法實時監測等問題，逐漸被非接觸式技術取代。近紅外光（NIR）憑借其特殊的物理特性，成為硅片厚度測量儀的核心光源，為芯片制造...
硅片電阻率測試模組是一款測量圓柱晶體硅電阻率測試儀器，可測量硅芯，檢磷棒，檢硼棒，籽晶等，由于儀器大大消除了珀爾帖效應、塞貝克效應、少子注入效應等負效應的影響，因此測試精度大大提高，量程實現了電阻率從10-4歐姆.厘米到10+4歐姆.厘米（可擴展）的測試范圍。因此儀器具有測量精度高、穩定性好、測量范圍廣、結構緊湊、使用方便等特點。是西門子法、硅烷法等工藝生產原生多晶硅料的企業、物理提純生產多晶硅料生產企業、光伏及半導體材料廠、器件廠、科研部門、高等院校以及需要超大量程測試電阻...
納米壓印機具有紫外線納米壓印功能的通用研發掩膜對準系統，支持尺寸從碎片到最大150毫米。該工具支持多種標準光刻工藝，例如真空，軟，硬和接近曝光模式，并可選擇背面對準。此外，該系統還為多功能配置提供了附加功能，包括鍵對準和納米壓印光刻。納米壓印機提供快速的處理和重新安裝工具，以改變用戶需求，光刻和NIL之間的轉換時間僅為幾分鐘。其先進的多用戶概念可以適應從初學者到專家級別的所有需求，因此使其成為大學和研發應用程序的理想選擇。對于壓印工藝，本產品允許基板的尺寸從小芯片尺寸到直徑1...
紅外激光測厚儀一般是由兩個激光位移傳感器上下對射的方式組成的，上下的兩個傳感器分別測量被測體上表面的位置和下表面的位置，通過計算得到被測體的厚度。本產品的優點在于它采用的是非接觸的測量，相對接觸式測厚儀更精準，不會因為磨損而損失精度。相對超聲波測厚儀精度更高。相對X射線測厚儀沒有輻射污染。測厚原理：兩個激光位移傳感器的激光對射，被測體放置在對射區域內，根據測量被測體上表面和下表面的距離，計算出被測體的厚度。紅外激光測厚儀的基本組成是激光器、成像物鏡、光電位敏接收器、信號處理機...
主動減震臺是一款輕量的落地式隔振系統，輕量化的架構設計使得安裝和移動十分便捷。采用進口非壓電式專用技術，無限制反饋傳感器結合鋼制彈簧和氣囊高度耦合的被動基礎帶來0.5-100赫茲的超寬隔振頻域，可應對高加速度下的振動沖擊。主動減震臺是一款緊湊型、模塊化的六自由度隔振系統，用于抵消工作環境對靈敏度高的精密設備產生的不必要振動，以提高精密設備的性能，具有較好的性能及通用性。該隔振臺的主動隔振頻率為0.5Hz-200Hz，被動隔振頻率200Hz，其能夠整合到現有的需要低頻隔振的設備...
折射率測量儀是一種折射光學儀器，他用來測量物質在水中的濃度他利用光在水中折射的原理來完成測量。它的使用十分簡單：取一滴樣品滴到棱鏡中，并讀取數值就可以了。具有可調焦點，直接讀取數字。我司折射率測量儀有糖度計、鹽度計、蜂蜜濃度計、乳化液濃度計、切削液濃度計、冰點儀、甲醇冰點儀，礦山乳化液濃度計、酒精濃度計、果酒濃度計、豆漿濃度計、牛奶濃度計、蓄電池比重計、電解液比重計、尿比重計等系列產品，可以測量所有溶液濃度，例如：果汁、飲料、紅酒、果醬、蜂蜜、牛奶、鹽度、鹽水、罐裝食物、清洗...