當前位置：首頁 > 產品中心 > 膜厚儀 > Thetametrisis膜厚儀 > FR-uProbe-LC光學顯微鏡適配器
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介紹：
FR-uProbe-LC, 只需連接到大多數市售光學顯微鏡（反射率和/或透射率）的 C-Mount適配器，即可提供:
o 在顯微鏡支持的波長范圍內進行實時光譜測量
o 薄膜厚度、光學特性、不均勻性測量
o 使用集成、USB 連接的高分辨率和高質量彩色相機進行成像
o 不受顯微鏡本身性能影響
光斑尺寸（收集反射率或透射率信號的區域）由孔徑尺寸和物鏡放大倍率定義，可小至 2μm.
應用：
o 大學 & 研究實驗室
o 半導體（氧化物、氮化物、Si、抗蝕劑等）
o MEMS 器件（光刻膠、硅膜等）
o 液晶顯示器LED
o 數據存儲
o 陽極氧化
o 彎曲基材上的硬/軟涂
o 聚合物涂料、粘合劑等
o 生物醫學（聚對二甲苯、導管壁厚等）
o 聯系我們您的應用需求
特征：
o 單擊分析（無需初始值）
o 可以動態連續測量
o 測量n & k、顏色座標
o 數據庫內建 700 多種材料
o 用于離線分析的多個安裝
o 免費軟件更新
規格：
測量區域光斑（收集反射信號的區域）與物鏡和孔徑大小有關, 標準孔徑尺寸為：500μm（方形）、250μm（方形）、100μm（方形）.250μm為默認孔徑值.可根據要求提供的其他孔徑尺寸：150μm（方形）和 50μm（方形）.
測量原理：
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